芯片描述
芯片特點(diǎn)
○ | 8 位CPU | ○ |
2.4V~3.6V 工作電壓范圍 -40~85℃ 工作溫度范圍 |
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○ |
內(nèi)部高精度RC(可校準(zhǔn))、低功耗RC,不同工作模式選擇 運(yùn)行模式1:<550μA@RC 4MHz @CPU 4MHz 運(yùn)行模式2:<400μA@RC 4MHz @CPU 2MHz 休眠模式:2μA |
○ | 6k Words OTP(One Time Programmable)程序存儲(chǔ)器,256 Byte數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器 | |
○ | 掉電檢測及WDT,可防止CPU 進(jìn)入死循環(huán) | ○ |
高解析度ΣΔADC模數(shù)轉(zhuǎn)換器: 零輸入電壓,零輸出電壓;高輸入阻抗(內(nèi)置輸入緩沖器);內(nèi)置絕對(duì)溫度檢測器 |
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○ | 1.2V 內(nèi)部類比電路共地電壓源 | ○ | LVD 低電壓檢測功能,14 段檢測電壓設(shè)置與外部輸入電壓檢測功能 | |
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可程序化多功能網(wǎng)絡(luò) 電壓/電阻/電容換擋測量,定電壓/定電流輸出,元件可自我校正,元件正負(fù)極性判別 |
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4×14 LCD液晶驅(qū)動(dòng)器 Static、1/2、1/3、1/4 Duty 及1/3 Bias 內(nèi)置Charge Pump 穩(wěn)壓線路,可提供4 種LCD 偏壓 |
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○ | 17 個(gè)IO 端口 | ○ | 8-bit Timer A:8-bit Timer C 具有PWM/PFM 波形產(chǎn)生功能 | |
○ |
多功能比較器 具有遲滯與Latch 功能,可降低glitch;可程序化設(shè)定比較電壓;可作為短路測試,頻率測量或電容充放電頻率測量 |
○ | 模擬電壓源VDDA 可選擇4 種輸出電壓,具有10mA 穩(wěn)壓電壓源輸出能力 | |
UART 模組 | 支持6 級(jí)堆棧 | |||
支持BIE 功能,結(jié)合燒錄子程序,可以省去外部EEPROM芯片 | 內(nèi)置1.111MΩ、101KΩ、10KΩ、1KΩ 比例電阻,可分別選擇啟用內(nèi)置或外置 | |||
封裝形式:LQFP64封裝、軟封 |
芯片框圖
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