芯片描述
芯片特點(diǎn)
○ | 2.4V~3.6V 工作電壓范圍;-40~85℃工作溫度范圍 | ○ |
內(nèi)部高精度 RC、低功耗 RC,支持外部晶振,不同工作模式選擇 運(yùn)行模式1:<2mA@CRY 8MHz @CPU 8MHz 運(yùn)行模式2:<550μA@RC 4MHz @CPU 4MHz 運(yùn)行模式3:<300μA@RC 4MHz @CPU 2MHz 休眠模式:<1.2μA |
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○ | 6k Words OTP Type 程序存儲(chǔ)器,256 Bytes 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器 | ○ | 掉電檢測(cè)及 WDT,可防止 CPU 進(jìn)入死循環(huán) | |
○ |
高解析度ΣΔADC 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 零輸入電壓,零輸出電壓;高輸入阻抗;內(nèi)置絕對(duì)溫度檢測(cè)器 |
○ | 1.2V 內(nèi)部模擬電路共地電壓源 | |
○ | LVD 低電壓檢測(cè)功能,14 段檢測(cè)電壓設(shè)置與外部輸入電壓檢測(cè)功能 | ○ |
可編程多功能網(wǎng)絡(luò) 電壓/電阻/電容換擋測(cè)量,定電壓/定電流輸出,元件可自校正,元件正負(fù)極性判別 |
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○ |
4×15 LCD 液晶驅(qū)動(dòng)器 Static、1/2、1/3、1/4 Duty 及 1/3 Bias 內(nèi)置 Charge Pump 穩(wěn)壓線路,可提供 4 種 LCD 偏壓 |
○ | 8-bit Timer A:8-bit Timer C 具有 PWM/PFM 波形產(chǎn)生功能 | |
○ |
多功能比較器 具有遲滯與 Latch 功能,可降低 glitch;可程序化設(shè)定比較電壓;可作為短路測(cè)試,頻率測(cè)量或電容充放電頻率測(cè)量 |
○ | 模擬電壓源 VDDA 可選擇 4 種輸出電壓,具有 10mA 穩(wěn)壓電壓源輸出能力 | |
○ | UART 模組; | ○ | 支持 6 級(jí)堆棧; |
芯片框圖
產(chǎn)品中心
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